Скачать книги автора «Вячеслав Дмитриевич Сальников»

Лабораторный практикум содержит описание методик выполнения пяти лабораторных работ. В нем рассмотрены теоретические основы рентгеновского спектрального и рентгеновского дифрактометрического методов анализа, их современная аппаратура и применение в аналитическом контроле объектов металлургического производства.

В лабораторном практикуме изложены основные понятия и методики проведения практических работ по рентгеновским методам анализа. Каждой работе предшествует теоретическое введение. Приведены последовательность выполнения работ, перечень контрольных вопросов для закрепления полученных теоретических и практических знаний. Соответствует программе курса «Методы контроля и анализа веществ». Пособие предназначено для студентов бакалавриата, обучающихся по направлениям подготовки 22.03.02 «Металлургия», 03.03.02 «Физика», 28.03.03 «Наноматериалы».

Методические указания предназначены для проведения практических и семинарских занятий по дисциплине «Методы контроля и анализа веществ». Приведены основные понятия, термины и определения в области аналитического контроля объектов металлургического производства. Кратко представлен необходимый для решения задач материал, излагаемый в рамках данной дисциплины. Приведены основные формулы и примеры решения задач.

Методические указания предназначены для студентов, обучающихся в бакалавриате по направлению подготовки 22.03.02 «Металлургия», 03.03.02 «Физика», 28.03.03 «Наноматериалы», 27.03.01 «Стандартизация и метрология».

Рассмотрены теоретические основы и аппаратурное оформление современных методов аналитического контроля объектов металлургического производства. Приведены последовательность выполнения лабораторных работ, перечень контрольных вопросов для закрепления полученных теоретических и практических знаний.

Практикум предназначен для проведения лабораторных занятий по дисциплинам «Современные методы аналитического контроля материалов», «Методы контроля и анализа веществ» для студентов, обучающихся в бакалавриате по направлениям подготовки 27.03.01 «Стандартизация и метрология», 03.03.02 «Физика», 28.03.03 «Наноматериалы».