Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Авторы: Джи Лиу, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити

Страницы:601

Возрастное ограничение:12+

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.

Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.

Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.