Вход / Регистрация
Главная > Дмитрий Григорьевич Крутогин > Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Читать онлайн
Добавить Написать рецензию

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Дмитрий Григорьевич Крутогин

Жанр: Техническая литература

Авторы: Дмитрий Григорьевич Крутогин, Олег Игоревич Рабинович

Страницы:43

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

0 0

Скачать книгу “Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов”

Доступные форматы для скачивания:
Комментарии 0
Добавить комментарий
Мило Мило Страшно Страшно Страшно Страшно Изумление Изумление Романтика Романтика Фууу Фууу До слез До слез Познавательно Познавательно Радость Радость Трэш Трэш Ем кактус Ем кактус Увлекательно Увлекательно

Похожие книги 9

Зарегистрируйтесь

или Войдите

Войдите

или Зарегистрируйтесь

Забыли пароль?
Восстановить доступ

Зарегистрируйтесь или войдите в аккаунт